AccoTEST软件支持通过检索关键字读取历史测试数据，实现测试数据比对、规格卡控与TRIM参数调校。该功能适用于多温度测试比对、Wafer批量数据分析、FT回读CP测试数据等应用场景，打通前后工序数据链路，实现测试数据可追溯管理。
您可以从本文了解到
1. 读取历史数据的实现逻辑
2. FT和CP测试获取历史数据案例分析
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