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 首页>产品介绍>STS 3202A 光电耦合器老化试验台
  
系统用于老化光电耦合器,并且能够实现自动对光电耦合进行循环检测。
光耦老化台一次可装入1~5个插件单元,能够允许多种型号(如DIP单光耦、DIP四光耦以及TO-5单光耦等)最多1000位的老化器件同时进行老化。
采用多台电源分别对各插件单元供电,可设置不同的老化条件以满足小批量多品种器件同时老化的要求。老化电源稳定可靠,老化电压连续可调。
可程序设置老化器件数量、器件类别、老化时间、老化失效判据等老化条件。
在老化过程中,老化总电压、电流过载时,老化电源会自动报警并且自动切断。从而可以保护被老化器件。
能够对所老化的器件自动进行循环检测。巡检过程中,一旦发现器件失效,系统能自动记录失效数据并保存。同时报警提示老化操作人员对失效器件进行处理。
为用户设计和制作各光电耦合器老化插件单元试验板。
试验原理和技术指标符合相关国家标准、国家军用标准及行业标准。



  光电耦合器是半导体光电器件中的重要组成部分,由于其输入和输出回路之间可承受数千伏的高电压,具有极高的绝缘电阻,但同时又具有良好的控制性能,因此在民用电子产品和军用电子装备中,广泛应用于传输需要隔离的数字量和模拟量信号。

光电耦合器的电老化是保证该器件质量的最有效的可靠性筛项目之一,由于该器件的传输比较低,而且具有一定的分散性,同时传输比又是温度的函数,使电老化中器件工作点的自动稳定成为技术难点。

  STS 3202A 光电耦合器老化试验台系统是 STS 3200 系列电子元器件老化试验台系统中的一个重要组成部分,系统用于老化光电耦合器。针对电老化中器件工作点的自动稳定较难的问题,系统设计了专用的老化电源,通过Vce稳定电路、Ic恒流电路基准电压电路,从而较好地解决了这个问题;同时,系统还设计了If工作电压、过流保护电路,从而能够分别对光耦的输入和输出部分供电电源过载进行保护控制,使系统具有非常高的安全性能。在老化操作人员输入简单的数据后,系统将自动生成用于老化监测的命令程序并发送到老化巡检单元。老化启动后,系统能够实现自动对光电耦合器件进行循环检测及失效报警,因而系统还具有较高的智能化及自动化的特点。

    系统的技术性能符合有关国军标对光电耦合器老化试验的要求。

  目前,该设备已经被一些光电器件生产与制造单位所采用,成为老化光电耦合器的主力设备。



项 目 技 术 指 标
监测位数 1000
巡检速率 0.2—20秒(可编程)
停机方式失效停机/失效不停机(可编程)
测老化电压满度值50V、分辨力12.5 mV
测老化工作电流两量程,范围0-99.9mA、分辨力10uA、精度±3%




  试验台的软件系统是基于Windows 9X操作系统的面向过程的傻瓜式的汉化交互式软件,具有良好的可操作性。交互式软件一步步自动引导老化操作人员进行操作。该软件系统只要求老化操作人员输入简单的数据,而后系统将自动生成用于老化监测的命令程序并发送到老化巡检单元。启动后,系统便实现了自动巡检与失效自动报警功能。

      通过试验台的软件系统设置并启动老化监测后,自动巡检单元能够脱离系统微机继续进行巡检。在检测到某个器件的失效状态后,巡检单元自动报警提示,并将失效数据保存在RAM区,当系统微机与自动巡检单元的通讯重新连接后,试验台的软件系统会自动将失效数据取回,并保存在硬盘失效数据文件中。


(以上技术指标供参考,以产品标准为准。分辨力为最小量程分辨力)

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