| | |  |  | 适用于运算放大器、电压比较器、采样保持器、电压跟随器、精密电压 | | | 基准、时基电路、达林顿晶体管阵列等各类模拟器件参数测试。 | | 测试原理符合相应的国家标准、国家军用标准和行业标准，可满足民用和 | | | 军用各类模拟器件的测试要求。 | | 0.5uV
和1pA的微小电压、电流测试分辨力，并具有良好的测试精度和稳定性，可满足各种高阻抗和低失调模拟器件的测试 | | | 要求。 | | 高达152dB的AVO、CMRR和PSRR参数的测试能力，适用于各种高性能模拟器件的测试要求。 | | 精心设计的辅助运放闭环线路，可与各种特性的被测器件构成稳定的闭环系统，并具有良好的测试适应性和稳定性。 | |
0.01%精度的基准电压测量能力，可达到各种精密电压基准的高精度测试要求。 |
模拟器件是半导体集成电路中的重要组成部分，在各种民用电子产品和军用电子装备中模拟器件以其精密的特性发挥着至关重
要和无法替代的作用，但同时也给模拟器件的参数测试带来了技术上的难度。例如在运算放大器中，输入偏置电流为几十皮安（pA
）的高阻抗器件，输入失调电压为几十微伏（uV）的低失调器件，开环增益高达143dB以上的高增益器件，都是测试的难点。另外
高速器件在闭环测试线路中引起的自激振荡也是模拟测试系统经常碰到的问题。
北京华峰测控技术有限公司自主研制的 STS 2107C 模拟器件测试系统，是 STS 2100 系列电子元器件测试系统的重要组成部
分，适用于运算放大器、电压比较器、采样保持器、电压跟随器、精密电压基准、时基电路、达林顿晶体管阵列等各类模拟器件的
参数测试。
STS 2107C系统较好地解决了上述模拟器件测试中的技术难点。精心设计的高品质辅助运放环路及采取的多种防漏电、抗干扰、
防自激措施，使系统具有0.5uV和1pA的微小电压、电流测试分辨力，并且有良好的测试精度和稳定性，可以满足各种高阻抗、低
失调、高增益器件的测试。对于各种高速器件经有效补偿也可以得到稳定的测试效果。
系统具有测试覆盖面宽，测试精度高，性能稳定，测试适应性好等特点，是模拟器件参数检测和质量保证的必备设备。系统 己被航天、航空、兵器、船舶、核工业、信息产业等军、民品领域的科研院所和企业广泛应用，同时也被我国模拟器件国军标生
产线确定为指定检测设备。
| 模块型号 |
测试类别 | 典型测试品种 | | BX
1071A | 运算放大器，电压比较器 | LM，LF，AD，OP，MC，TL，CA，HA
等系列 | | BX 1072A | 采样保持器，电压跟随器 | LF198
/ 298 / 398，LM110 / 210 / 310 | | BX
1073A | 精密电压基准 | AD581，AD584，AD586，LM336 | | BX
1074A | 时基电路 | LM555，LM556 | | BX
1076A | 达林顿晶体管阵列 | MC1411，MC1412，MC1413，MC1416 |
| 运算放大器、电压比较器主要测试参数（BX1071A测试模块） | | 输入失调电压 | VOS | 输出高电压 | VOH | | 输入偏置电流 | IB+,
IB－, IB | 输出低电压 | VOL | | 输入失调电流 | IOS
| 输出源出电流 | IO+ | | 开环电压增益 | AVO
| 输出灌入电流 | IO－ | | 共模抑制比 | CMRR,
CMRR_i | 输出漏电流 | IOH | | 电源电压抑制比 | PSRR+,
PSRR－, PSRR | 电源电流 | IS+,
IS－, IS | | 输出电压摆幅 | VO+,
VO－, VO | 静态功耗 | PS |
| 采样保持器、电压跟随器主要测试参数（BX1072A测试模块） | | 输入失调电压
| VOS | 逻辑端输入电流
| I_LOG, I_REF | | 输入偏置电流
| IB+ | 保持端漏电流
| I_HOLD | | 增益误差 | GE | 电源电压抑制比 | PSRR | | 增益 | Gain | 输出电压摆幅 | VO+,VO－ | | 输出阻抗
| RO | 电源电流
| IS |
| 精密电压基准主要测试参数（BX1073A测试模块） | | 输出电压 | VO | 静态电流 | IQ | | 线性调整率 | SV | 短路电流
| IOS | | 负载调整率 | SI | | |
| 时基电路主要测试参数（BX1074A测试模块） | | 触发电压 | VTR | 饱和电压 | VSAT | | 触发电流 | ITR | 泄放电流 | IOH | | 复位电压 | VR | 输出低电压 | VOL | | 复位电流
| IR | 输出高电压 | VOH | | 控制电压
| VC | 电源电流
| IS | | 阈值电流
| ITH | | |
| 达林顿晶体管阵列主要测试参数（BX1076A测试模块） | | 输出漏电流
| ICEX | 输入电压(通态) | VIN | | 饱和电压 | VSAT | 放大倍数
| HFE | | 输入电流(通态)
| II_ON | 二极管反向漏电流 | IR | | 输入电流(断态)
| II_Off | 二极管正向电压
| VF |
精密测量单元（PMU）主要技术指标
| 工作方式 | 量
程 | 分辨力 | 精确度 | | 恒定电压 | ±40
V, …, ±0.4 V | 0.2 mV | ±(0.25%
reading+5LSB) | | 电压测量 | ±40
V, …, ±0.4 V | 0.1 mV | ±(0.25%
reading+5LSB) | | 恒定电流 | ±400
mA, …,±40 uA (5档) | 20 nA | ±(0.25%
seting+5LSB) | | 电流测量 | ±400
mA, …,±40 uA (5档) | 10 nA | ±(0.25%
reading+5LSB) |
程控电压源（VDD）主要技术指标
| 工作方式 | 量
程 | 分辨力 | 精确度 | | 恒定电压 | 40
V | 10 mV | ±50
mV | | 电流测量 | 400
mA, …, 40 uA (5档) | 100 nA | ±(0.25%
reading+5LSB) |
程控电压源（VSS）主要技术指标
| 工作方式 | 量
程 | 分辨力 | 精确度 | | 恒定电压 | 40
V | 10 mV | ±50
mV | | 电流测量 | 400
mA, …, -40 uA (5档) | 100 nA | ±(0.25%
reading+5LSB) |
BX1073A测试模块主要技术指标
| 基准电压 | 精确度 | |
+10.000V, +7.500V, +5.000V, +2.500V | ±1 mV |
BX1076A测试模块主要技术指标
| 恒定电流 | 精确度 | |
+350uA, +500uA, +300mA, +350mA | ±2% |
（以上技术指标供参考，以产品标准为准。分辨力为最小量程分辨力）
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