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 首页>产品介绍>STS 2101B 数字集成电路测试系统
  
适用于通用中、小规模数字集成电路的逻辑功能和静态直流参数测试。
测试原理符合相应的国家标准、国家军用标准和行业标准。
3组程控电源,24个可编程I/O通道,2组可编程输入驱动电平和2组可编程输出判别电平。
1nA 电流测试分辨力,并具有良好的测试精度和稳定性,可满足国军标CMOS电路的测试要求。
20V程控电源电压,驱动、比较电平和电压测量范围,可满足CD4000系列等高电压逻辑的数字电路测试要求。
支持OC门、OE门和3S门器件的逻辑功能和静态直流参数测试。



  数字电路是半导体集成电路中的重要组成部分,通用中、小规模数字集成电路虽己应用多年,但依然在各种民用电子产品和军用电子装备中发挥着重要的作用。

  由于通用中、小规模数字集成电路在我国电子产品和装备中占有较大的使用比例,其品质直接影响着各种电子整机和系统的性能和可靠性,因此对通用中、小规模数字集成电路必须进行严格的测试和筛选。

  为满足各种通用中、小规模数字集成电路的测试需求,北京华峰测控技术有限公司自行研制生产了 STS 2101B 数字集成电路测试系统。该系统是 STS 2100 系列电子元器件测试系统的组成部分,适用于74/54、74LS/54LS、74HC/54HC、74HCT/54HCT、CD4000等各类通用中、小规模数字集成电路的逻辑功能和直流参数测试。

  系统测试覆盖面宽,测试精度高,性能稳定,操作使用方便,在微小电流测试方面具有独到的设计和采用特殊的工艺措施,特别适合于CMOS器件的测试要求。系统是通用中、小规模数字集成电路功能、参数检测及质量保证的必备设备。系统己被航天、航空、兵器、船舶、核工业、信息产业等军、民品领域的科研院所和企业广泛应用,同时也被我国的CMOS数字电路国军标生产线确定为指定检测设备。



参数名称 参数符号
输入箝位电压VIK, VIK+, VIK-
输出电压VOH, VOL
输入电流II, IIH, IIL
输出短路电流IOS
参数名称 参数符号
输出关态电流IOH
输出驱动电流IOH, IOL
输出三态电流IOZH, IOZL
电源电流ICCH, ICCL, ICC, IDD



内 容量 程 分辨力精确度
VDD恒定电压20 V5 mV±20 mV
VDD电流测量 400 mA, …, 4 uA(6档)1 nA±(0.25% reading+5LSB)
VEE恒定电压20 V5 mV±25 mV
VEE电流测量 40 mA, …, 40 uA(4档)10 nA±(0.25% reading+5LSB)
VBB恒定电压-20 V5 mV±25 mV
VBB电流测量40 mA, …, 40 uA(4档)1 nA±(0.25% reading+5LSB)
PMU恒定电压20 V5 mV±25 mV
PMU电压测量±20 V, ±10 V, ±4 V, ±2 V0.5 mV±0.125% fs
PMU恒定电流±400 mA, …, ±40 uA(5档)10 nA±(0.25% setting+5LSB)
PMU电流测量±400 mA, …, ±4 uA(6档)1 nA±(0.25% reading+5LSB)
引脚驱动电压20 V5 mV±50 mV
引脚比较电压20 V5 mV±50 mV

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