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产品介绍 Product Intro
Products 分立器件测试系统
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产品功能特点ü 可测试各类二极管、三极管、场效应管、达林顿管、光耦(含高速光耦)、可控硅、整流桥、二三极管阵列、IGBT等半导体器件的功能和直流参数。ü 标配功率VI源40V/40A(跨导测试可达50V/40A),高压2000V。大电流可扩流至200A(可选)。ü 性能指标均衡,测试精度高,满足广大客户的测试需求。ü 特性曲线的测试功能,有利于分立器件特性分析。ü 窗口式电流电压硬件箝位保护,确保测试安全、可靠。ü 系统支持开机自检、自动校准等功能,便于及时诊断设备状态。ü 小型化设计,集成度高,节省空间,使用方便。ü  测试速度快、精度高、测试数据稳定、产能效率高。ü 性价比高,满足客户低成本的测试需求。ü 既适合器件成品手工测试,也适合器件量产自动测试(可接分选机和探针台) STS8203S主要技术指标功率源电压驱动/测量量程±40V~±1V 共6档(分辨率16位)精度±0.1% (Fs)  ±1V量程时;±0.05% (Fs)  其它量程功率源电流驱动/测量量程±40A~±4uA 共8档(分辨率16位)精度±1% (Fs)  40A量程;±0.5% (Fs) ±4A/4uA量程;±0.1% (Fs) 其它量程高压源电压驱动/测量量程±2000V~±100V 共5档(分辨率16位)精度±0.05% (Fs)高压源电流驱动/测量量程±10m~±1uA...
STS 8203A 半导体分立器件测试系统. 16位驱动与测量分辨率,测试数据准确、稳定;. 电压的驱动与测量精度达到了0.05%(Fs);. 电流的驱动与测量精度达到了0.1%(Fs);. 测试速度快,单颗器件测试时间300mS左右;. 使用操作简便,采用菜单填表式的编程模式,提供各类型典型器件测试模板;. 软硬件钳位保护,丰富的故障检测和保护提醒功能,测试更安全可靠;. 提供丰富的测试适配器及通用的多阵列测试适配板,支持多达8个单元的二极管、三极管、场效应管阵列的测试,支持多 路光耦、高速光耦的测试;. 支持二极管、三极管和场效应管的开关参数测试(选配);. 支持瞬态热阻参数测试(选配);. 既适合于小批量多品种的成品测试筛选工作需要,也适合于大批量器件生产测试需求。低电压源/表电压驱动/测量电压量程±40V,±20V,±10V,±5V,±2V,±1V分辨力16 Bits驱动/测量精度±0.1% (Fs) 1V量程,±0.05% (Fs) 其它量程电流驱动/测量电流量程±40A,±4A,±400mA,±40mA,±4mA,±400uA,±40uA,±4uA分辨力16Bits驱动/测量精度±1% (Fs) ±40A量程,±0.5% (Fs) ±4A,±4uA量程,±0.1% (Fs) 其它量程高压源/表电压范围2000V/4mA, 1000V~100V/10mA分辨力16 Bits驱动/测量精度电压精度±0.05% (Fs),电流精度&#...
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