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产品介绍 Product Intro
Products 混合及模拟器件测试系统
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.  适用于三极管、二极管、MOS场效应管、结型场效应管、光电耦合器、可控硅等各种大、中、小功率半导体分立器件的直流参数测试。 .  测试原理符合相应的国家标准、国家军用标准和行业标准。 .  系统具有±10V,±40A的低电压参数测试范围和500V,40mA的高电压参数测试范围。.  采用脉冲法参数测试,功率参数的测试脉宽为 300us(占空比2%),符合国军标的规定并有效抑制测试温升。 .  全线路采用四线开尔文测试原理,完全扣除接触电阻和接触压降,使大电流参数测试更加精确。.  独特的硬件闭环HFE参数测试线路,使HFE数值更加精确,测试适应性更好。 .  系统提供TO-220、TO-3、TO-39等多种标准封装形式的测试适配器。半导体分立器件是半导体器件中的重要组成部分,在高电压、大电流、高功率和高频等领域中起着集成电路无法替代的作用,但同时也给半导体分立器件的参数测试带来了一定的技术难度。  北京华峰测控技术有限公司自主研制的STS 2103B 半导体分立器件测试系统,是STS 2100系列电子元器件测试系统中的重要组成部分,适用于三极管、二极管、MOS场效应管、结型场效应管、光电耦合器、可控硅等各种大、中、小功率半导体分立器件的直流参数测试。系统较好地解决了半导体分立器件测试技术上的难点。系统采用数字、模拟两次程控稳压,具有过压、过流保护功能的高压源系统,有效提高了高压参数的测试安全性。系统采用全线路四线开尔文测试原理,可完全扣除系统各环节的接触电阻和接触压降,使大电流参数测试更加精确。系统采用低占空比(2%)300 uS脉冲测试,符合国军标要求,有效抑制了由于测试功率导致的器件温升及测试误差。系统还采用了共基极硬件闭环,恒定及补偿发射级电流的独特线路来精确稳定被测器件的...
.  适用于通用中、小规模数字集成电路的逻辑功能和静态直流参数测试。.  测试原理符合相应的国家标准、国家军用标准和行业标准。.  3组程控电源,24个可编程I/O通道,2组可编程输入驱动电平和2组可编程输出判别电平。 .  1nA 电流测试分辨力,并具有良好的测试精度和稳定性,可满足国军标CMOS电路的测试要求。 .  20V程控电源电压,驱动、比较电平和电压测量范围,可满足CD4000系列等高电压逻辑的数字电路测试要求。 .  支持OC门、OE门和3S门器件的逻辑功能和静态直流参数测试。数字电路是半导体集成电路中的重要组成部分,通用中、小规模数字集成电路虽己应用多年,但依然在各种民用电子产品和军用电子装备中发挥着重要的作用。由于通用中、小规模数字集成电路在我国电子产品和装备中占有较大的使用比例,其品质直接影响着各种电子整机和系统的性能和可靠性,因此对通用中、小规模数字集成电路必须进行严格的测试和筛选。为满足各种通用中、小规模数字集成电路的测试需求,北京华峰测控技术有限公司自行研制生产了 STS 2101B 数字集成电路测试系统。该系统是 STS 2100 系列电子元器件测试系统的组成部分,适用于74/54、74LS/54LS、74HC/54HC、74HCT/54HCT、CD4000等各类通用中、小规模数字集成电路的逻辑功能和直流参数测试。系统测试覆盖面宽,测试精度高,性能稳定,操作使用方便,在微小电流测试方面具有独到的设计和采用特殊的工艺措施,特别适合于CMOS器件的测试要求。系统是通用中、小规模数字集成电路功能、参数检测及质量保证的必备设备。系统己被航天、航空、兵器、船舶、核工业、信息产业等军、民品领域的科研院所和企业广泛应用,同时也被我国的CMOS数字电路国军标生产线确定为指定检测设备。参数名称 参数符号输...
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