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产品介绍 Product Intro
产品名称:

STS 8203A 半导体分立器件测试系统

产品名称: STS 8203A 半导体分立器件测试系统
上市日期: 2016-12-21
  • 产品概述
  • 产品规格
  • 详细参数
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  • 关联方案

STS 8203A 半导体分立器件测试系统




. 16位驱动与测量分辨率,测试数据准确、稳定;
. 电压的驱动与测量精度达到了0.05%(Fs);
. 电流的驱动与测量精度达到了0.1%(Fs);
. 测试速度快,单颗器件测试时间300mS左右;
. 使用操作简便,采用菜单填表式的编程模式,提供各类型典型器件测试模板;
. 软硬件钳位保护,丰富的故障检测和保护提醒功能,测试更安全可靠;
. 提供丰富的测试适配器及通用的多阵列测试适配板,支持多达8个单元的二极管、三极管、场效应管阵列的测试,支持多

路光耦、高速光耦的测试;

. 支持二极管、三极管和场效应管的开关参数测试(选配);
. 支持瞬态热阻参数测试(选配);
. 既适合于小批量多品种的成品测试筛选工作需要,也适合于大批量器件生产测试需求。


低电压源/表

电压驱动/测量

电压量程


±40V,±20V,±10V,±5V,±2V,±1V

分辨力

16 Bits

驱动/测量精度

±0.1% (Fs) 1V量程,±0.05% (Fs) 其它量程

电流驱动/测量

电流量程

±40A,±4A,±400mA,±40mA,±4mA,±400uA,±40uA,±4uA

分辨力

16Bits

驱动/测量精度

±1% (Fs) ±40A量程,±0.5% (Fs) ±4A,±4uA量程,±0.1% (Fs) 其它量程

高压源/表

电压范围

2000V/4mA, 1000V~100V/10mA

分辨力

16 Bits

驱动/测量精度

电压精度±0.05% (Fs),电流精度±0.1% (Fs)

扩流源/表

电流范围

200A/10V

分辨力

16 Bits

驱动/测量精度

电流精度±1% (Fs) ±200A量程

电压精度±0.1% (Fs) 1V量程,±0.05% (Fs) 其它量程

微电流表

电流量程

±10mA,±1mA,±100uA,±10uA,±1uA,±100nA

分辨力

16Bits

测量精度

±1% (Fs) ±100nA量程,±0.5% (Fs) ±1uA量程,±0.1% (Fs) 其他量程

微电压表

电压量程

±10V (×1),±1V(×10),±100mV(×100)

分辨力

16Bits

测量精度

±0.05% (Fs) ±10V量程,±0.1% (Fs) ±1V量程,±0.5% (Fs) ±100mV量程

(以上技术指标仅供参考,以产品标准为准)



(包括但不限于所列参数)

类别 常规参数

二极管(各类)


Vr、Ir、Vf、Vz、Rz

三极管(NPN型/PNP型)

HFE、BVcbo、BVceo、BVebo、Vces、Vbes、Vbe、Icbo、Iebo、Iceo、Ices、Icbs、Icex

MOS场效应管(N沟/P沟)

Vgs(th)、Id(on)、Rds(on)、Vds(on)、gfs、BVdss、Idss、Igssf、Igssr、VFsd等

结型场效应管JFET(N沟/P沟)

BVgss、Bds、Idss、Igss、Vp、gm等

普通光藕(选件)

Vces、Iceo、BVceo、BVeco、VF、IF、IR、VR、CTR等

高速光耦(选件)

VF、IR、BVR、ICCH、ICCL、IEL、IEH、VEH、VEL、VOH、VOL、IOH、IOL、IFT、CTR

双二极管

Vr、Ir、Vf等

二极管阵列

Vr、Ir、Vf、Vz、Rz(DC)、Rz(AC)

三极管阵列

HFE、BVcbo、BVceo、BVebo、Vces、Vbes、Vbe、Icbo、Iebo、Iceo、Ices、Icbs、Icex

绝缘栅双极型晶体管IGBT(选件)

Vge(th)、Vces、Ices、Iges、gfs、Vf等

整流桥(选件)

Vr、Ir、Vf等

可控硅(选件)

Igt、Vgt、VT、ID(o)、IR(o)、VD(o)、VR(o)、IL、Ih等





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