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产品介绍 Product Intro
Products 分立器件测试系统
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STS8203S半导体分立器件测试系统是北京华峰测控技术有限公司在全新一代测试系统STS8200测试平台上开发的系列测试产品之一。本系统可用于各类二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类分立器件的功能和交参数测试。功率测试电流达±200A,功率源电压±40V,高压可达±2000V,覆盖了绝大多数分立器件品种的测试需求。该系统测试速度快、精度高、性能稳定、测试安全、适应性好,不仅适用于军工应用领域小批量多品种的测试筛选需求、也适合军民品半导体器件生产领域大批量生产的测试筛选需求。. 可测试各类二极管、三极管、场效应管、达林顿管、光耦(含高速光耦)、可控硅、整流桥、二三极管阵列、IGBT等半导体器件的功能和直流参数. 标配功率VI源40V/40A(跨导测试可达50V/40A),高压2000V。大电流可扩流至200A(可选). 性能指标均衡,测试精度高,满足广大客户的测试需求. 特性曲线的测试功能,有利于分立器件特性分析. 窗口式电流电压硬件箝位保护,确保测试安全、可靠. 系统支持开机自检、自动校准等功能,便于及时诊断设备状态. 小型化设计,集成度高,节省空间,使用方便. 测试速度快、精度高、测试数据稳定、产能效率高. 性价比高,满足客户低成本的测试需求. 既适合器件成品手工测试,也适合器件量产自动测试(可接分选机和探针台)  1.系统结构尺寸2.系统工作条件 3.系统电源消耗  4.计算机配置要求
电话: 86 010-63725600、63725699、63725698 传真: 86 010-63725400
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