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产品介绍 Product Intro
Products 混合及模拟器件测试系统
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STS 8104A 电磁继电器测试系统. 可测试普通电磁继电器、磁保持继电器(双绕组)、时间继电器(1、2、3、4、5各型)、极化继电器等多种类型继电器的功能和参数;. 测试原理和方法参照国军标规定,线路设计和软件设计符合GJB65B电磁继电器总规范等标准的要求;. 全线路采用四线开尔文测试,高精度的触点电阻测量单元,在军标规定的10mA测试电流下稳定测试毫欧级触点电阻;. 支持继电器多组触点的并行测试(最多六组),减少切换环节,速度快;. 高精度数字定时,继电器一次动作完成各种时间参数测试(吸合、释放、回跳、稳定时间等);.可测试继电器的同步性,可做磁保持继电器的中位筛选; .系统支持绝缘电阻、介质耐压的自动测试(选配);. 测试中各种测试条件(如延迟时间等)和合格判据均可由用户编程设定;.软硬件均具有良好的开放性和可扩充性;.软件设计界面简明易用,使用操作方便。STS 8104A 电磁继电器测试系统(包括但不限于所列参数)测试参数测试范围最高分辨力最高精度(fs)绕组电压±5V···±40V(4量程)2.5mV0.5%绕组电阻800KΩ0.1Ω0.5%触点电阻100mΩ,1Ω,10Ω(3量程)0.05mΩ0.5%动作时间3.2mS···3200S(7量程)50nS0.5%同步时间3.2mS···3200S(7量程)50nS0.5%回跳时间32mS500nS0.5%稳定时间32mS500nS0.5%绝缘阻抗9999MΩ10KΩ1.0%介质耐压1000V(直流最大值或交流峰值)0.1V0.5%备注:普通继电器的绕组电压范围可达到±80V。(以上技术指标仅供参考,以产品标准为准)STS 8104A 电磁继电器测试系统结构尺寸测试主机:610(宽)x...
STS 8203T 直流固体继电器测试系统. 支持直流单路、双路和四路直流固体继电器的测试;. 支持单向和双向直流固体继电器的测试;. 软硬件均具有较好的开放性和可扩充性;. 可支持外接源表进行测试;. 功率参数采用脉冲法测试,可提高测试准确性;. 软件界面友好、简明好用,使用操作简便。 (包括但不限于所列参数)参数名称测量范围测试条件范围输入接通电压0 - 40VVi = 0 - 40V,Io = 0 - 10A接通条件范围: 1mΩ - 100kΩ输入接通电流0 - 1000mAIi = 0 ~ 1000mA,Io = 0 - 10A接通条件范围: 1mΩ ~ 100kΩ输入关断电压0 - 40VVi = 0 ~ 40V,Vo = 0 - 1000V关断条件范围: 1uA - 100uA输出接通电阻1mΩ - 100kΩVi = 0 - 40V,Io = 0 - 10A输出电压降0 - 40VVi = 0 - 40V,Io = 0 - 10A接通时间0 - 40SVi = 0 - 12V,Vo = 0 - 40V关断时间0 - 40SVi = 0 - 12V,Vo = 0 - 40V关断时间0 - 1000mAVi = 0 - 40V输入正向压降0 - 40VIi = 0 - 100mA输出漏电流0 - 10mAVi = 0 - 40V,Vo = 0 - 1000V击穿电压0 - 1000VIi= 0 - 10mA关断电流0 - 100mAIi= 0 - 100mA,Io = 0 - 10A ,关断条件范围: 1uA - 10mA输入反向漏电0 - 100mAVi = 0 - 40V输入反向击穿电压0 - 1000VIi= 0 - 10mA输入偏置电流0 - 100mAVi = 0 - 40V(以上技术指标仅供参考,以产品标准为准)结构尺寸测试主机:610(宽)x 60...
STS 8203A 半导体分立器件测试系统. 16位驱动与测量分辨率,测试数据准确、稳定;. 电压的驱动与测量精度达到了0.05%(Fs);. 电流的驱动与测量精度达到了0.1%(Fs);. 测试速度快,单颗器件测试时间300mS左右;. 使用操作简便,采用菜单填表式的编程模式,提供各类型典型器件测试模板;. 软硬件钳位保护,丰富的故障检测和保护提醒功能,测试更安全可靠;. 提供丰富的测试适配器及通用的多阵列测试适配板,支持多达8个单元的二极管、三极管、场效应管阵列的测试,支持多 路光耦、高速光耦的测试;. 支持二极管、三极管和场效应管的开关参数测试(选配);. 支持瞬态热阻参数测试(选配);. 既适合于小批量多品种的成品测试筛选工作需要,也适合于大批量器件生产测试需求。低电压源/表电压驱动/测量电压量程±40V,±20V,±10V,±5V,±2V,±1V分辨力16 Bits驱动/测量精度±0.1% (Fs) 1V量程,±0.05% (Fs) 其它量程电流驱动/测量电流量程±40A,±4A,±400mA,±40mA,±4mA,±400uA,±40uA,±4uA分辨力16Bits驱动/测量精度±1% (Fs) ±40A量程,±0.5% (Fs) ±4A,±4uA量程,±0.1% (Fs) 其它量程高压源/表电压范围2000V/4mA, 1000V~100V/10mA分辨力16 Bits驱动/测量精度电压精度±0.05% (Fs),电流精度&#...
适用于通用数字集成电路以及常用计算机外围接口芯片的参数测试。 .  测试原理符合相应的国家标准、国家军用标准和行业标准。.  3组程控电源,48个可编程I/O通道,4组可编程输入驱动电平和4组可编程输出判别电平。.  3 bit / Pin 的失量结构,支持输入高、低电平,输出高、低电平,输出三态和输出屏蔽等多种图形格式。.  1nA 电流测试分辨力,并具有良好的测试精度和稳定性,可满足国军标CMOS电路的测试要求。.  20V程控电源电压,驱动、比较电平和电压测量范围,可满足CD4000系列等高电压逻辑的数字电路测试要求。.  支持OC门、OE门和3S门器件的逻辑功能和静态直流参数测试。.  方便、直观的非语言化菜单式编程软件简单、易学,可极大提高使用者的编程效率和软件开发速度。通用数字集成电路是半导体集成电路中的重要组成部分,在民用电子产品和军用电子装备中,数字集成电路的大量使用是数字时代的一个显著特点,已经成为新世纪新技术产业的基石。北京华峰测控技术有限公司自行研制生产的 STS 2106A 数字集成电路测试系统,是 STS 2100 系列电子元器件测试系统的组成部分,适用于48 Pin 以下通用数字集成电路和接口电路的逻辑功能和参数测试。系统采用3 bit / Pin 的失量结构,支持输入高、低电平,输出高、低电平,输出三态和输出屏蔽等多种图形格式。系统硬件采用流行的Pin板和测试头结构,有效改善了引脚的驱动波形,提高了系统的测试性能。独特的系统软件大大地简化了编程过程,友好的界面使参数代码和失量代码都具有极好的可读性,使用户可以轻松实现编程。系统的测试范围全面覆盖原STS 2101B系统。STS 2106A系统测试覆盖面宽,测试精度高,性能稳定,操作使用方便,是通用数字集成电路和接口电路功能、参...
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