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SEMI F47电压下降测试程序
符合SEMI F47（Voltage Sag immunity）标准
是一种为了进行SEMI F47标准的半导体处理装置电压下降防护测试
＊1
而设计的程序（一种应用软件）。
通过GPIB接口，能在本公司的电源系统*2中自动设定测试条件，并能将测试结果用文件方式保存起来。
＊1
在半导体工厂里，由于设备故障或大的负荷变动，交流电源供电电压会突然下降（从半个周期到数秒钟）。本软件对这种状态进行仿真，测试和评估产生这种情况时被测试装置的耐受性能。
＊2
ES系列
或4400/8400系列
As-520测试画面
三相下降波形
可进行如下两种类型的测试
●SEMI标准测试
可进行用SEMI F47标准所规定的测试条件下的电源下降防护特性测试。
●用户测试
可进行用户自己设定的测试条件下的电源降压防护特性测试
电源系统
ES系列
（本公司仿真电源）
4400/8400系列（本公司系统交流电源，不低于Ver.2.3）
上述任意一种
个人计算机
PC/AT兼容机
·内存不小于32MB
·硬盘剩余空间不小于50MB
·显示器 1024×768（像素）、可256色显示
操作系统
Windows98/SE/Me/2000/XP（Microsoft公司产品）
GPIB接口
PCI-GPIB板、PCMCIA-GPIB板、USB-GPIB
（上述均为美国National Instruments公司产品）
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